矢量分析不是圖像對比升級版AOI,我們平常所說的AOI設(shè)備圖像對比實(shí)則是aoi技術(shù)的統(tǒng)稱,是aoi設(shè)備工作原理的總概括,即通過設(shè)備圖像抓取然后與電腦程序中設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行對比以實(shí)現(xiàn)檢測發(fā)現(xiàn)不良品質(zhì)問題的方法,在aoi設(shè)備發(fā)展過程中,涌現(xiàn)了多種檢測分析技術(shù)包括圖像統(tǒng)計(jì)分析,矢量分析,圖形相似性分析,亮度分析,色階分析,字符識別,IC橋接分析等等,在這么多檢測分析技術(shù)中,不管是主流的圖像統(tǒng)計(jì)技術(shù)還是新技術(shù):矢量分析技術(shù),他們的工作原理都是,通過抓取圖像然后對比已設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)圖像,得出檢測結(jié)果的aoi檢測技術(shù)。
矢量分析不是圖像對比升級版AOI,區(qū)別在于圖像對比技術(shù)是采用像素圖對比像素圖,而矢量分析是矢量圖對比矢量圖,對比內(nèi)容從技術(shù)上來講完全是兩個(gè)不同的數(shù)據(jù)。而矢量分析的優(yōu)勢也體現(xiàn)在這里,學(xué)過圖像設(shè)計(jì)的人都知道矢量圖是可以無限放大縮小的,而且不失真,而像素圖即位圖在放大的情況下是會(huì)失真的,圖像放得越大越模糊,這就決定了圖像對比技術(shù)對硬件的高要求和依賴。因此,我們知道:矢量分析是不同于圖像對比的一種更高層次的對比技術(shù)。矢量分析技術(shù)對微小或小型元件的不良檢出率會(huì)高于圖像對比技術(shù)。
aoi設(shè)備發(fā)展早期,圖像對比是aoi工作原理的統(tǒng)稱,習(xí)慣上我們將aoi檢測技術(shù)稱為圖像對比技術(shù),后來圖像統(tǒng)計(jì)建模技術(shù)得到發(fā)展簡稱統(tǒng)計(jì)建模,從根本上來說還是像素圖的對比,沒有本質(zhì)的變化,統(tǒng)計(jì)建模的優(yōu)點(diǎn)在于增加了aoi設(shè)備的自動(dòng)判別能力,智能化更高,誤判率相對有所下降。而對于PFC(軟性線路板)的檢測誤判率還是居高不下。所以我們可以說目前的aoi檢測技術(shù)分為圖像對比技術(shù)和矢量分析技術(shù)。
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